Оптико-электронная авторефлексионная система со специальным контрольным элементом для измерения линейных смещений

Алексеева А. А., I. A. Konyakhin


Read the full article 

Abstract

В работе проведен анализ оптических схем построения оптико-электронных систем контроля деформаций крупных промышленных объектов. Рассматривается вариант построения оптико-электронной авторефлексионной системы со специальным контрольным элементом для измерения линейных смещений. Также рассматривается чувствительность предложенной системы и погрешности измерения смещения объекта. По результатам эксперимента построен график зависимости чувствительности авторефлексионной системы от дистанции контроля. Полученные экспериментально значения средних квадратических погрешностей составили 0,2 от размера элемента ПЗС-матрицы по оси х и 0,25 от размера элемента ПЗС-матрицы по оси у.


Keywords:

ПЗС-матрица, оптико-электронные системы

Copyright 2001-2017 ©
Scientific and Technical Journal
of Information Technologies, Mechanics and Optics.
All rights reserved.

Яндекс.Метрика