Aнализ методологических подходов к описанию поляризационно-оптических параметров полупроводниковых и диэлектрических материалов

Майорова О. В., Скалецкий Е. К.


Read the full article 

Abstract

Методы поляризационно-оптического анализа современных нанотехнологических материалов приобретают особую значимость благодаря развитой теоретической и экспериментальной базе. Поляризационно-оптические методы исследования материалов, по сравнению со спектрофотометрическими, обладают более высокой экспериментальной точностью измерений. Это связано с тем, что при поляризационно-оптической диагностике исследуются амплитудно-фазовые соотношения поля световой волны, а не ее энергетика.




Creative Commons License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License
Copyright 2001-2018 ©
Scientific and Technical Journal
of Information Technologies, Mechanics and Optics.
All rights reserved.

Яндекс.Метрика