Нанотестер для диагностики и модификации микро– и наноструктур: создание и исследование методики, изготовление и испытание макетного образца

A. Golubok, Керпелева С.Ю.


Read the full article  ';

Abstract

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) – один из базовых приборов в современной нанотехнологии. Визуализация микро- и наноструктур на поверхности образцов в СЗМ основана на детектировании локального взаимодействия между твердотельным нанозондом и образцом.




Creative Commons License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License
Copyright 2001-2024 ©
Scientific and Technical Journal
of Information Technologies, Mechanics and Optics.
All rights reserved.

Яндекс.Метрика