Метрологическое обеспечение контроля лучевой прочности оптических материалов.

S. E. Putilin, Старовойтов С. Ф.


Read the full article 

Abstract

Для обеспечения метрологических вопросов контроля лучевой прочности оптических материалов обобщены и систематизированы результаты работ многих авторов и выданы рекомендации по их использованию.




Creative Commons License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License
Copyright 2001-2018 ©
Scientific and Technical Journal
of Information Technologies, Mechanics and Optics.
All rights reserved.

Яндекс.Метрика