Исследование конфокального оптоэлектронного микроскопа для измерения мер малой длины

Абрамова Л. Ю., Майорова О. В.



Аннотация

В настоящее время появилась необходимость в измерении микро- и наноструктур. С развитием технологий потребовалась высокая точность в изготовлении различных элементов приборов (например, материнских плат в компьютерах, микрочипов, эталонных мер для микроскопов и т.д.).


Ключевые слова:

оптоэлектронный микроскоп

Информация 2001-2017 ©
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики.
Все права защищены.

Яндекс.Метрика