Оптико-электронная авторефлексионная система со специальным контрольным элементом для измерения линейных смещений

Алексеева А. А., Коняхин И. А.



Аннотация

В работе проведен анализ оптических схем построения оптико-электронных систем контроля деформаций крупных промышленных объектов. Рассматривается вариант построения оптико-электронной авторефлексионной системы со специальным контрольным элементом для измерения линейных смещений. Также рассматривается чувствительность предложенной системы и погрешности измерения смещения объекта. По результатам эксперимента построен график зависимости чувствительности авторефлексионной системы от дистанции контроля. Полученные экспериментально значения средних квадратических погрешностей составили 0,2 от размера элемента ПЗС-матрицы по оси х и 0,25 от размера элемента ПЗС-матрицы по оси у.


Ключевые слова:

ПЗС-матрица, оптико-электронные системы

Информация 2001-2017 ©
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики.
Все права защищены.

Яндекс.Метрика