Aнализ методологических подходов к описанию поляризационно-оптических параметров полупроводниковых и диэлектрических материалов

Майорова О. В., Скалецкий Е. К.



Аннотация

Методы поляризационно-оптического анализа современных нанотехнологических материалов приобретают особую значимость благодаря развитой теоретической и экспериментальной базе. Поляризационно-оптические методы исследования материалов, по сравнению со спектрофотометрическими, обладают более высокой экспериментальной точностью измерений. Это связано с тем, что при поляризационно-оптической диагностике исследуются амплитудно-фазовые соотношения поля световой волны, а не ее энергетика.


Информация 2001-2017 ©
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики.
Все права защищены.

Яндекс.Метрика