Меню
Публикации
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
Главный редактор
НИКИФОРОВ
Владимир Олегович
д.т.н., профессор
Партнеры
Неразрушающие методы исследования стереометрии и внутренних дефектов оптического волокна для элементной базы микроэлектроники и микропроцессорной техники
Аннотация
В работе проведен анализ существующих методов неразрушающего контроля основных характеристик оптического волокна. Предложен новый метод исследования стереометрии и структурных дефектов оптического волокна. Осуществлен анализ температурных потерь оптического волокна. Для случая мягко-буферного покрытия из силоксановых эластомеров даны рекомендации по эффективному соотношению диаметров сердцевины и светоотражающей оболочки и оболочек защитного покрытия
