Непосредственная регистрация распределения интенсивности в стоячей эванесцентной волне с помощью ближнепольного туннельного оптического микроскопа

Воронин Ю. М., Горелов Н. С., P. S. Parfenov


Read the full article 

Abstract

Получена непосредственная запись распределения интенсивности света в стоячей эванесцентной волне в условиях ближнепольного туннельного микроскопа. Показана возможность использования картины стоячих волн для обнаружения дрейфа и нелинейности сканатора, контроля калибровки увеличения. Рассмотрено влияние дефектов на поверхности полного внутреннего отражения на вид интерференционных полос.


Copyright 2001-2017 ©
Scientific and Technical Journal
of Information Technologies, Mechanics and Optics.
All rights reserved.

Яндекс.Метрика