Применение жидких кристаллов для изучения свойств поверхности материалов

M. G. Tomilin


Read the full article 

Abstract

Рассмотрено недисплейное применение нематических жидких кристаллов для изучения свойств поверхности материалов: дефектов микрорельефа, структурных неоднородностей, распределения слабых электрических и магнитных полей. Описан разработанный метод неразрушающего контроля поверхностей и показаны возможности его применения в кристаллографии, минералогии, металловедении, тонкопленочной технологии и медицине. Обсуждены перспективы развития метода.




Creative Commons License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License
Copyright 2001-2018 ©
Scientific and Technical Journal
of Information Technologies, Mechanics and Optics.
All rights reserved.

Яндекс.Метрика