Неразрушающие методы исследования стереометрии и внутренних дефектов оптического волокна для элементной базы микроэлектроники и микропроцессорной техники

K. V. Dukelskiy, V. L. Tkalich, Фролков В. Н., Коробейникова М. А.


Read the full article 

Abstract

В работе проведен анализ существующих методов неразрушающего контроля основных характеристик оптического волокна. Предложен новый метод исследования стереометрии и структурных дефектов оптического волокна. Осуществлен анализ температурных потерь оптического волокна. Для случая мягко-буферного покрытия из силоксановых эластомеров даны рекомендации по эффективному соотношению диаметров сердцевины и светоотражающей оболочки и оболочек защитного покрытия


Copyright 2001-2017 ©
Scientific and Technical Journal
of Information Technologies, Mechanics and Optics.
All rights reserved.

Яндекс.Метрика