Метод измерения времени жизни носителей заряда  
в базовых областях быстродействующих диодных структур

Тогатов Вячеслав Вячеславович, Гнатюк Петр Анастасьевич

2004 , ТОМ 04, НОМЕР 4 ( СЕНТЯБРЬ-ОКТЯБРЬ )

ISSN 2226-1494 (print), ISSN 2500-0373 (online)

Меню

Публикации

Главный редактор

НИКИФОРОВ
Владимир Олегович
д.т.н., профессор

Партнеры

Метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях быстродействующих диодных структур

Тогатов В.В., Гнатюк П.А.

Аннотация

Предложен метод измерения времени жизни носителей заряда в базовых областях, позволяющий производить измерения времен жизни, начиная с единиц наносекунд. Разработанная методика предусматривает такую же форму измерительного импульса тока, какая используется при стандартных измерениях времен восстановления диодных структур.

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License