Menu
Publications
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
Editor-in-Chief

Nikiforov
Vladimir O.
D.Sc., Prof.
Partners
Нанотестер для диагностики и модификации микро– и наноструктур: создание и исследование методики, изготовление и испытание макетного образца
Read the full article

Abstract
Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) – один из базовых приборов в современной нанотехнологии. Визуализация микро- и наноструктур на поверхности образцов в СЗМ основана на детектировании локального взаимодействия между твердотельным нанозондом и образцом.