СОДЕРЖАНИЕ

СИСТЕМЫ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ

МИКРОЭЛЕКТРОНИКА, ДЕФЕКТОСКОПИЯ И ДЕФЕКТООБРАЗОВАНИЕ В ПРОЦЕССАХ ПРОИЗВОДСТВА И ЭКСПЛУАТАЦИИ ЭЛЕМЕНТНОЙ БАЗЫ И СУ

55
63
71
73
75
Фролков В. Н., Иванова С. М., Елисеев О. В., Михайленко А. С., Студеникин О. Л. ОБЗОР МЕТОДОВ КОНТРОЛЯ ПЕРВИЧНЫХ ПАРАМЕТРОВ ОПТИЧЕСКОГО ВОЛОКНА
78

БИОТЕХНИЧЕСКИЕ ИНФОРМАЦИОННО-ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ

ПЕРСПЕКТИВНЫЕ ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ

МЕТОДЫ ЗАЩИТЫ ИНФОРМАЦИИ

133
136
146
152
160
168
173
Гатчин Ю. А., Дрюков Н. Ю., Ермаков И. В., Ермаков Н. В. МЕТОДИКА ПОСТРОЕНИЯ МОДЕЛИ УГРОЗЫ ИНФОРМАЦИОННОЙ БЕЗОПАСНОСТИ
181

Научная школа «НАНОМАТЕРИАЛЫ, НАНОСТРУКТУРЫ, НАНОТЕХНОЛОГИИ»

187
196
207
213
218
235
Никоноров Н. В., Лазарева К. Е., Акишина Е. Ю. ВЛИЯНИЕ Br НА ФОТО-ТЕРМО-ИНДУЦИРОВАННУЮ КРИСТАЛЛИЗАЦИЮ СТЕКЛА
245
251
257
264
272
278
286
294
300
Чивилихин С. А., Свитенков А. И., Лесничий В. В. ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ ТЕЧЕНИЯ В НАНОГИДРОДИНАМИКЕ
309
316
322

Научная школа «ТЕХНОЛОГИИ ВЫСОКОПРОИЗВОДИТЕЛЬНЫХ ВЫЧИСЛЕНИЙ И СИСТЕМ»

331
338
348
Оленев Н. Н., Козлицкая А. В., Кощеев А. В., Фетинина А. И. ИДЕНТИФИКАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ МАТЕМАТИЧЕСКОЙ МОДЕЛИ РАЗВИВАЮЩЕЙСЯ ЭКОНОМИКИ
354
361
373
383
390
399
Информация 2001-2024 ©
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики.
Все права защищены.

Яндекс.Метрика